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    IEC 62047-4:2026

    Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS
    • 발행일 : 2026-01-07
    • 발행기관 : IEC
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상세정보

분야 TC 47/SC 47F : Micro-electromechanical systems
적용범위 IEC 62047-4:2026 describes generic specifications for micro-electromechanical systems (MEMS) made by semiconductors, which are the basis for specifications given in other parts of this series for various types of MEMS applications such as sensors, RF MEMS, optical MEMS, bio-MEMS, micro TAS, and power MEMS. This document specifies general procedures for quality assessment and establishes general principles for describing and testing of electrical, optical, mechanical and environmental characteristics. This part of IEC 62047 aids in the preparation of standards that define devices and systems made by micromachining technology, including but not limited to, material characterization and handling, assembly and testing, process control and measuring methods. MEMS described in this document are basically made of semiconductor material. However, the statements made in this document are also applicable to MEMS using materials other than semiconductor, for example, polymers, glass, metals and ceramic materials.
This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition:
a) in the Scope, optical MEMS, bio-MEMS, micro TAS, and power MEMS for various types of MEMS applications were included;
b) MEMS categories and terms in Table 1 were slightly modified such consumer electronics and automotive were added that in application technology.
국제분류(ICS)코드 31.080.99 : 기타 반도체 장치
페이지수 19
Edition 2.0

이력정보

No. 표준번호 표준명 발행일 상태
1 IEC 62047-4:2026상세보기 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS 2026-01-07 표준
2 IEC 62047-4:2008상세보기 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 4: Generic specification for MEMS 2008-08-21 구판

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