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KS C IEC 60749-8(2016 확인)
반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제8부：봉합- 발행일 : 2016-12-02
- 발행기관 : 한국표준협회
- 국제표준 부합화 : IEC 60749-8:2002(IDT)
상세정보
| 분야 | 전기전자(C) > 반도체·디스플레이 | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 적용 범위 | 이 규격은 반도체소자(개별소자, 집적회로)에 적용 가능하다.이 시험 방법의 목적은 반도체소자의 누설률을 알아보기 위함이다.비 고 이 시험은 IEC 60749(1996)의 제3장 5.와 개정판 2의 2.에 명시된 시험 방법과 일치한다. | ||||||||
| 표준명(영어) | Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 8：Sealing | ||||||||
| 국제표준분류(ICS)코드 | 31.080.01 : 반도체 장치 일반 | ||||||||
| 국제표준 부합화 |
IEC 60749-8:2002(IDT)
※ IDT:일치, MOD:수정, NEQ:일치하지 않음 |
||||||||
| 고시기관(고시번호) | 국가기술표준원 (제2016-0454 호) | ||||||||
| 고시사유 | 5년도래 확인표준 | ||||||||
| KS심사기준 |
|
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| 페이지수 | 8 | ||||||||
이력정보
| 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 상태 | 고시사유 | 비고 |
|---|---|---|---|---|---|
| KS C IEC 60749-8(2021 확인)상세보기 | 반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제8부：봉합 | 2021-09-28 | 확인(표준) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-8(2016 확인)상세보기 | 반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제8부：봉합 | 2016-12-02 | 확인(구판) | 5년도래 확인표준 | |
| KS C IEC 60749-8(2011 확인)상세보기 | 반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제8부：봉합 | 2011-12-13 | 확인(구판) | ||
| KS C IEC 60749-8상세보기 | 반도체 소자－기계 및 기후적 환경 시험 방법－제8부：봉합 | 2006-11-30 | 제정(구판) |
확인 및 폐지 고시된 표준에 대해서는 마지막 제정 또는 개정 표준을 구입하시면 됩니다.
인용표준
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No | 표준번호 | 표준명 | 고시일 | 언어 | 제공형태 | 판매가격 |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
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